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patentrecht:absehen_von_der_beanstandung
Absehen von der Beanstandung
§ 42 (1) S. 2 des Patentgesetzes (PatG) erlaubt der Prüfungsstelle, von der Beanstandung bestimmter Mängel abzusehen.
§ 42 (1) S. 2 PatG
Entspricht die Anmeldung nicht den Bestimmungen über die Form und über die sonstigen Erfordernisse der Anmeldung (§ 34 Abs. 6) [→ Einreichung der Anmeldung], so kann die Prüfungsstelle bis zum Beginn des Prüfungsverfahrens (§ 44) von der Beanstandung dieser Mängel absehen.
siehe auch
§ 42 PatG → Offensichtlichkeitsprüfung
Beschreibt die Offensichtlichkeitsprüfung, die vor der regulären Prüfung stattfinden kann, um offensichtliche Mängel in der Anmeldung zu identifizieren.
patentrecht/absehen_von_der_beanstandung.txt · Zuletzt geändert: 2025/01/20 13:49 von mfreund
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