§ 42 (1) S. 2 des Patentgesetzes (PatG) erlaubt der Prüfungsstelle, von der Beanstandung bestimmter Mängel abzusehen.
Entspricht die Anmeldung nicht den Bestimmungen über die Form und über die sonstigen Erfordernisse der Anmeldung (§ 34 Abs. 6) [→ Einreichung der Anmeldung], so kann die Prüfungsstelle bis zum Beginn des Prüfungsverfahrens (§ 44) von der Beanstandung dieser Mängel absehen.
§ 42 PatG → Offensichtlichkeitsprüfung
Beschreibt die Offensichtlichkeitsprüfung, die vor der regulären Prüfung stattfinden kann, um offensichtliche Mängel in der Anmeldung zu identifizieren.